用优体克隆+子体优生遗传算法识别含水层参数

摘要：

为识别含水层参数,本文在十进制简单遗传算法(SGA)的基础上,提出了一种改进的组合方法,即优体克隆+子体优生遗传算法(BCC-YGCD-GA).理想模型计算表明,与SGA比较,BCC-YGCD-GA具有收敛速度快,稳定性好的优点,是一种值得在实际中推广应用的含水层参数识别方法.

关键词：含水层参数识别、遗传算法、理想模型、有限单元法

分类号：P641.2(水文地质学与工程地质学)

资助基金：国家自然科学基金49972085

在线出版日期：2007-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：12-16