瞬变电磁消除勘探盲区的技术方法及应用效果

摘要：

瞬变电磁(TEM)测深由于采样率(关断延时)的限制导致第一个数据采样的时间往往在数十微秒后进行,而不能在0时刻进行采样,就是人们所说的数据勘探盲区,根据地层浅部电阻率大小,这种勘探盲区高达数十米甚至上百米,随着地层电阻率的增大而增大,严重制约TEM资料对地层浅部的分析、反演及解释,尤其对于目标体深度小于第一个采样深度的情况甚至会产生错误的结果;利用美国Zonge公司开发的GDP32Ⅱ的NanoTEM系统(纳米瞬变电磁系统)可以进行快速关断和快速取样方案使得首次采样率最小可以到达1.2μs,将常规TEM方法和NanoTEM方法有机结合起来,可以大大消除TEM方法的勘探盲区,提高资料解释的精度,通过生产实践摸索一套二者结合的方式、方法及参数,取得了很好的效果.

关键词：瞬变电磁、纳米瞬变电磁、勘探盲区、消除方法、实践效果

所属期刊栏目：11

分类号：P631.3

在线出版日期：2014-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：361-365