10.3321/j.issn:0253-9721.2006.09.004
磁控溅射法制备纳米Ag薄膜的AFM分析和导电性能
在室温条件下,采用磁控溅射法在PET纺粘非织造布上制备了纳米Ag薄膜,用原子力扫描显微镜(AFM)分析溅射功率、溅射真空室气压等工艺参数对纳米Ag薄膜结晶状态、粒径的影响;研究了溅射工艺参数与薄膜导电性能之间的关系.实验结果表明,在室温下,随着溅射功率增加,纳米Ag薄膜Ag粒子尺寸增大,功率为120 W时,薄膜导电性能最好;随着反应气体压强增加,Ag粒子直径变小,薄膜的导电性能变差.
磁控溅射、纳米结构、AFM、Ag薄膜、导电性能
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TS174(纺织工业、染整工业)
教育部科学技术研究重点项目106089
2006-10-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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