聚焦离子束扫描电镜双束系统在材料研究中的应用
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-232x.2014.01.024

聚焦离子束扫描电镜双束系统在材料研究中的应用

引用
近年来,聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB )因具有独一无二的优势,广泛应用于材料科学、微纳加工、半导体器件制造中。尤其是其精密加工和定位加工的特点,获得了众多研究者的青睐。本文介绍了聚焦离子束电镜双束系统在材料研究中的几种应用。

聚焦离子束扫描电镜(FIB)、双束系统、应用

TB3;TG1

2014-03-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

114-118

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

分析仪器

1001-232X

11-1822/TH

2014,(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn