X荧光光谱法测定玩具饰品中的重金属含量

摘要：

采用X荧光光谱法测定了塑料、金属、陶瓷等多类玩具饰品表面中的重金属Cr、Cd、Pb、Hg含量.仪器预热初始化后,对不同大小,不同形状,不同属性的样品无需做任何的预处理,直接无损测定其表面重金属的含量.单个样品测定时间为2～3分钟,可连续不间断测定,检测限低,可达2mg/kg,相对标准偏差低于4.6％.所用仪器为国产仪器,仪器成本及运行和维护成本低,应用于现场实时分析,便于推广.该法具有分析速度快、操作简单、对样品无任何损坏等特点,用于玩具饰品中重金属Cr、Cd、Pb、Hg含量的测定,简单,实用.

关键词：X荧光光谱法、玩具、重金属

分类号：O65;X13

资助基金：科技部创新方法专项2008IM040400

在线出版日期：2012-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：52-54