10.3969/j.issn.1001-232X.2012.01.010
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钴基钎料中的硅含量
选择钴基钎料硅元素中灵敏度高的光谱线作为分析线,研究了样品溶解方法,优化了仪器测定的工作条件.用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钴基钎料中硅元素含量.与标纲值对照,结果与标准值相符.用钴基钎料样品进行加入回收试验,回收率96%~107%,相对标准偏差小于4.29%.
电感耦合等离子体原子发射光谱法、钴基钎料、硅
O65;TS2
2012-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
39-41