X射线荧光光谱法测定铝硅铬质耐火材料中主次成分

摘要：

以无水四硼酸锉和碳酸锂作熔剂,采用玻璃熔片法制样,建立了测定铝硅锆质耐火材料中Al2O3,SiO2,Fe203,TiO2,CaO,MgO,ZrO2,HfO2等组分的X射线荧光光谱法(XRF).根据铝硅锆质耐火材料中主次成分含量范围,采用标准样品配制出被测组分具有合适含量范围和浓度梯度的校准样品绘制校准曲线.并对熔剂选择、基体效应校正进行了探讨.将X射线荧光光谱法用于铝硅锆质试样的分析与化学分析结果进行比对,两者吻合.

关键词：X射线荧光光谱法、玻璃熔片、铝硅锆质耐火材料、主次成分

分类号：O65;X13

在线出版日期：2011-06-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-41