低稀释比熔片X射线荧光法分析钼精矿中主次微量元素

摘要：

建立了X射线荧光光谱法测定钼精矿中Mo,Si,Ca,Cu,Pb,W,Bi,P,As,Sn的分析方法.通过固体纯物质机械混合研磨配制了校准曲线所用的12个标准样品.钼精矿样品在600℃进行了灼烧处理.采用混合熔剂(Li2B4O7∶LiBO2∶LiF=10∶2.5∶1,m/m/m)加氧化剂LiNO3,并且以低稀释比(混合熔剂∶LiNO3∶灼烧后试样=4∶0.6∶0.8,m/m/m)熔融制备了X射线荧光法所用玻璃片样品.使用背景曲线法计算As元素的可靠背景强度;采用干扰曲线法校正MoL1对P Kα,Pb Lα对As Kα的谱线重叠干扰;采用经验系数法和Rh靶Compton内标法对各分析元素的基体效应影响进行了校正.钼精矿中微量元素检出限分别为:Cu(9.4×10-4％),Pb(1.8×10-3％),W(2.2×10-3％),Bi(1.9×10-3％),P(9.0×10-4％),As(6.1×10-4％),Sn(2.3×10-3％).

关键词：X射线荧光光谱、钼精矿、低稀释比

所属期刊栏目：38

分类号：TF03(一般性问题)

在线出版日期：2019-05-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：369-373