SDD探测X射线中BP网络全谱定量分析技术研究

摘要：

针对能量色散X荧光分析技术中面临的能谱复杂、标样难于制备、基体效应难于校正等问题,建立了基于BP神经网络的特征X射线全谱分析模型,对SDD探测器测量获得的Ti-V-Fe伪三元系样品特征X射线荧光谱进行定量分析,对含量较高的Fe元素的分析误差范围在0.06％ ～ 2.5％内,含量较低的Ti和V元素分析误差范围在0.33％ ～8.4％内,基本克服了由于谱峰重叠和基体效应对解谱带来的复杂性.

关键词：SDD探测器、X射线荧光谱、定量分析、BP神经网络

所属期刊栏目：32

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：国家杰出青年科学基金41025015;国家自然科学基金项目40974065;核退役与核废物处置四川省青年科技创新研究团队2011JTD0013;成都理工大学优秀创新团队培育计划CDUTHY0084

在线出版日期：2013-02-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：121-124