SDD探测X射线中BP网络全谱定量分析技术研究
针对能量色散X荧光分析技术中面临的能谱复杂、标样难于制备、基体效应难于校正等问题,建立了基于BP神经网络的特征X射线全谱分析模型,对SDD探测器测量获得的Ti-V-Fe伪三元系样品特征X射线荧光谱进行定量分析,对含量较高的Fe元素的分析误差范围在0.06% ~ 2.5%内,含量较低的Ti和V元素分析误差范围在0.33% ~8.4%内,基本克服了由于谱峰重叠和基体效应对解谱带来的复杂性.
SDD探测器、X射线荧光谱、定量分析、BP神经网络
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O657.3(分析化学)
国家杰出青年科学基金41025015;国家自然科学基金项目40974065;核退役与核废物处置四川省青年科技创新研究团队2011JTD0013;成都理工大学优秀创新团队培育计划CDUTHY0084
2013-02-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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