三辛胺修饰碳糊电极测定电子引脚中的Cr(Ⅵ)

摘要：

采用三辛胺(TOA)修饰碳糊电极(TOA/CPE)测定了Cr(Ⅵ)含量, 并考察了最佳的实验条件. 当富集时间为10 min, 富集介质为0.15 mol/L H_2SO_4时, TOA/CPE能够有效地富集Cr(Ⅵ). 以溶出伏安法测定Cr(Ⅵ), 在-0.45 V (vs. SCE)处有灵敏的还原峰, 峰电流与Cr(Ⅵ)浓度在5.0×10~(-7)～1.0×10~(-3) mol/L范围内呈现良好的线性关系. 干扰试验显示TOA/CPE对Cr(Ⅵ)具有高选择性, 能够在Cr(Ⅲ)浓度是Cr(Ⅵ) 600倍时准确测定Cr(Ⅵ), 检出限达3.4×10~(-9) mol/L (S/N=3). TOA/CPE测定了实际样品电子引脚中的Cr(Ⅵ), 实验结果与紫外分光光度法结果一致.

关键词：碳糊电极、三辛胺、Cr(Ⅵ)

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分类号：O657.1(分析化学)

资助基金：江苏省精细石油化工重点实验室开放基金KF0701;江苏省自然科学基金BK2008543;江苏工业学院科学技术研究开发基金ZMF07020026

在线出版日期：2010-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：73-76