10.3969/j.issn.1000-0720.2006.02.007
Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量铟
报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量铟的新方法.研究了Na-fion膜的有关特性和测定的条件,当富集时间为5 min时,峰电流与In(Ⅲ)浓度在1×10-9~1×10-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检出限为1.46×10-10mol/L.该法用于实际水样中痕量铟的测定,平均回收率为98.4%.
Nafion修饰电极、伏安法、铟
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O657.1(分析化学)
2006-03-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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