X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究

摘要：

用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14 mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小;用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度,计算结果与标准值符合得较好.

关键词：X射线荧光光谱、纯元素标样、质量厚度、计算谱线选择

所属期刊栏目：25

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2006-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：5-8