10.3969/j.issn.1000-0720.2003.02.026
Nafion修饰电极伏安法测定痕量镉
@@ 化学修饰电极(CMEs)制备简单、灵敏度高、选择性好、响应迅速,用其取代有毒的汞电极已广泛用于分析化学中[1~4].
化学修饰电极、伏安法测定、痕量镉、determination of、灵敏度高、分析化学、选择性、汞电极
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O657.1(分析化学)
湖北省教育厅科研项目2002008010
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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