低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞

摘要：

建立了低温等离子体(LTP)与原子荧光光谱仪(AFS)联用直接检测ABS固体样品中Hg的方法.实验采用介质阻挡放电(DBD)方式产生低温等离子体,剥蚀固体样品后产生的元素蒸气引入到原子荧光光谱仪进行检测.优化的实验条件为:DBD外接电源的放电功率为16～18 W,放电气体流速为400 mL/min;采样距离为1～5 mm;原子荧光光谱仪的原子化器高度为10 mm.本系统测定Hg的检出限为0.91 mg/kg,线性范围为91.5～1096 mg/kg;精密度(RSD,n=7)为1.9％～2.3％,并对标准样品以及实际样品进行测定,测定结果与标准值与ICPMS及CVG-AFS一致,表明本方法可作为直接检测固体样品的新型元素分析技术.

关键词：低温等离子体、介质阻挡放电、汞、原子荧光、塑料

所属期刊栏目：40

分类号：O63;TQ3

资助基金：国家自然科学基金21075075;国家重大设备仪器开发专项2011YQ06010002

在线出版日期：2012-10-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1164-1168