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10.3724/SP.J.1096.2010.00752

石英晶体微天平在聚合物薄膜研究中的应用与展望

引用
石英晶体微天平仪(QCM)具有高度的灵敏性,能够对石英晶片表面微痕量物质的变化产生响应,在分析科学研究中广泛应用.本文阐述了QCM的基本工作原理和应用基础方程,并在此基础上综述了近年来QCM在聚合物薄膜研究中的应用及研究进展,包括QCM对聚合物薄膜的厚度和力学性能的测量、QCM研究聚合物分子链在石英晶片表面的吸附过程和链构象变化、表面引发生长聚合物刷的动力学过程、基于功能聚合物薄膜和QCM的生物与化学传感器等,同时对QCM在聚合物薄膜研究领域的进一步深入应用进行了展望.

聚合物薄膜、石英晶体微天平、评述

38

O63;TP3

国家自然科学基金.20604022,20874087;863科技计划2009AA04Z125

2010-06-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共8页

752-759

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分析化学

0253-3820

22-1125/O6

38

2010,38(5)

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