微流控芯片差示式非接触电导检测器的研制

摘要：

研制了一种适合普通厚度盖片的分析芯片的差示式非接触电导检测器.在芯片上制作分离通道和参比通道,并在独立的电极板上对应于两通道末端位置设置两对电极,分析芯片置于电极板上.信号发生器产生的高频信号分成两路,分别加至分离通道和参比通道对应的激发电极,两通道对应的接收电极的微弱信号经差示放大和整流.当组分经过分离通道电极间区域时,电导率与参比通道出现差异,获得检测信号.实验考察了激发频率、激发电压、电极间距等对检测性能的影响.在优化检测条件下,即检测频率100 kHz、检测电压10 V(Vp-p)、电极间距0.9 mm时,对K+的检出限达12 μmol·L-1,相对标准偏差为1.1％,并成功用于Na+、K+离子的分离检测.该检测器适用于容易制作的普通厚度盖片的分析芯片的检测,且芯片与电极板相互独立,使用方便.

关键词：非接触电导检测、差示式检测、微流控芯片

所属期刊栏目：33

分类号：O657.1;O614.112(分析化学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目20727006,21075139

在线出版日期：2014-05-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：455-459