预焙阳极微量元素XRF测定方法的研究

摘要：

使用X射线荧光光谱法测定预焙阳极中的微量和痕量元素,以粉末压片法制样,选用瑞士R ＆ D碳素公司的C-300系列标准样品,并用仪器软件Super Q中提供的飞利浦模式的经验系数(Classic)和铑(Rh)靶康普顿散射线内标法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,通过充分研磨样品消除颗粒效应,使用Magix(PW2403)X射线荧光光谱仪对样品中的F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、Sr和Sn共22个元素进行测定,11次测定的相对标准偏差小于10%,多数元素的检出限小于1 μg·g-1.用R ＆ D标准样品的混合样验证,测量结果与标准值的误差在化学分析允许范围内.

关键词：X射线荧光光谱、经验系数、散射线内标法、预焙阳极、粉末压片法

所属期刊栏目：27

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2008-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：998-1001,1004