X射线衍射多谱峰匹配强度比定量相分析方法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1004-4957.2004.01.013

X射线衍射多谱峰匹配强度比定量相分析方法

引用
提出了 1种采用 X射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法; 该法是利用混合物样品 X射线衍射谱图中的多谱峰数据, 结合 ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析, 求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度比; 以多谱峰匹配强度比取代通常采用的特定单一谱线强度比, 用于混合物样品的 X射线衍射定量相分析, 有利于提高定量相分析的精度; 采用多谱峰匹配强度比结合绝热法和基体清洗法 X射线衍射定量相分析原理, 通过对 4组分混合物样品的分析, 证实实验结果和理论完全一致.

XRD、多谱峰匹配强度比、定量相分析

23

O722.4(X射线晶体学)

国家自然科学基金50174016

2004-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

48-51

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

分析测试学报

1004-4957

44-1318/TH

23

2004,23(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn