10.3969/j.issn.1004-4957.2004.01.013
X射线衍射多谱峰匹配强度比定量相分析方法
提出了 1种采用 X射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法; 该法是利用混合物样品 X射线衍射谱图中的多谱峰数据, 结合 ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析, 求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度比; 以多谱峰匹配强度比取代通常采用的特定单一谱线强度比, 用于混合物样品的 X射线衍射定量相分析, 有利于提高定量相分析的精度; 采用多谱峰匹配强度比结合绝热法和基体清洗法 X射线衍射定量相分析原理, 通过对 4组分混合物样品的分析, 证实实验结果和理论完全一致.
XRD、多谱峰匹配强度比、定量相分析
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O722.4(X射线晶体学)
国家自然科学基金50174016
2004-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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