聚芳醚酮环状低聚物的基质辅助激光解吸电离质谱表征
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1004-4957.1999.05.017

聚芳醚酮环状低聚物的基质辅助激光解吸电离质谱表征

引用
采用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)技术分别对2种合成的聚芳醚酮环状低聚物进行了分析研究,并讨论了低聚物中不同聚合度离子组分的分布规律.实验结果表明MALDI-TOF-MS是分析环状低聚物直观、准确、快速的分析工具.

聚芳醚酮、环状低聚物、聚合度、基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱

18

O657(分析化学)

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

50-52

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

分析测试学报

1004-4957

44-1318/TH

18

1999,18(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn