10.11889/j.1000-3436.2022-0070
γ射线辐照对掺Ce钛酸铋铁电薄膜性能的损伤
采用溶胶-凝胶法在复合基底Pt/Ti/SiO2/Si上制备系列Bi3.25Ce0.75Ti3O12(BCTO)铁电薄膜,并对薄膜进行了不同剂量的γ射线辐照.通过热重-示差扫描量热分析仪(TG-DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)和铁电测试仪等对辐照前后的薄膜的结构、微观形貌、铁电性、漏电性以及抗疲劳性等进行了对比研究.结果表明:随着对γ射线吸收剂量的增加,薄膜的晶体结构没有改变;薄膜的铁电性能显著减弱,剩余极化2Pr从辐照前的51.5μC/cm2下降到23.7μC/cm2;薄膜的漏电流密度增大,从辐照前的0.9×10?7 A/cm2增大到7.2×10?7 A/cm2;在经历1012次开关极化循环后,部分薄膜出现疲劳现象.
γ射线、BCTO铁电薄膜、铁电性、漏电性、疲劳性
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TB34(工程材料学)
辽宁省教育厅项目LJ2019012
2022-12-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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