辐射诱发细胞内活性氧增高与DNA氧化损伤研究

摘要：

用60Co γ射线照射人支气管上皮细胞(BEP2D).细胞内过氧化氢(H2O2)和超氧阴离子(O2*-)分别用分子探针2',7'-二氯荧光黄双乙酸盐(DCFH-DA)和氢化乙锭(HE)进行标记,并通过流式细胞仪测定荧光产物2',7'-二氯荧光黄(DCF)和溴乙锭(EB)荧光强度进行相对定量分析.DNA氧化损伤产物8-羟基脱氧鸟嘌呤(OH8dG)含量用高压液相色谱结合电化学方法(HPLC-ECD)测定.结果表明, 60Co γ射线诱发BEP2D细胞内活性氧(ROS)水平和OH8dG含量均显著增高,并有良好的剂量效应关系.进一步分析显示,60Co γ射线照射诱发BEP2D细胞内ROS增高与DNA氧化损伤产物OH8dG含量呈明显正相关,提示辐射对细胞的损伤效应可能与其诱发细胞内ROS增高及其对DNA氧化损伤机制有关.

关键词：60Co γ射线照射、人支气管上皮细胞、活性氧、DNA氧化损伤、8-羟基脱氧鸟嘌呤

所属期刊栏目：19

分类号：R811.5;Q523(放射医学)

资助基金：国家自然科学基金39700030

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：270-274