二氧化硅/聚酰亚胺纳米杂化薄膜室温及低温力学性能

摘要：

利用溶胶-凝胶技术制备了不同SiO2含量的二氧化硅/聚酰亚胺(SiO2/PI)纳米杂化薄膜.采用红外光谱(IR)和扫描电镜(SEM)手段对该体系的分子结构和断裂形貌进行了表征,研究了聚酰亚胺薄膜室温和低温(77 K)力学性能.结果表明:室温和低温(77 K)下,SiO2 /PI杂化薄膜的拉伸强度开始时均随SiO2含量的增加而增加,在含量为3%时达到最大值,低温下杂化薄膜的拉伸强度明显高于室温.室温下,杂化薄膜的断裂伸长率在含量为3%时达到最大值,而低温(77 K)下,薄膜的断裂伸长率的变化没有呈现明显的规律性.

关键词：聚酰亚胺、溶胶-凝胶法、力学性能

所属期刊栏目：22

分类号：TB332(工程材料学)

资助基金：中国科学院"百人计划";国家高技术研究发展计划（863计划）

在线出版日期：2005-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：11-15