用衰减全反射红外光谱研究纳米SiO2粒子在复合涂层中的迁移现象

摘要：

用衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)技术研究了纳米SiO2粒子在紫外光固化复合涂层中的迁移现象,并对影响纳米SiO2粒子在涂层中分布梯度的因素进行了半定量分析.研究结果表明,纳米SiO2粒子在光固化过程中向涂层接触空气的表面迁移,在表面层富集.当纳米SiO2粒子含量较高、分子量较小、接枝率较高,或者在极性较大的基体树脂中时,迁移较快,分布梯度较大.

关键词：衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)、纳米SiO2、紫外光固化复合涂层

所属期刊栏目：21

分类号：TB332(工程材料学)

资助基金：上海市科委资助项目02dz11001

在线出版日期：2004-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：54-57