10.3321/j.issn:1000-3851.2002.03.020
内嵌弹性区和结合力模型在薄膜/基底界面断裂中的应用
薄膜/基底结构是微电子学和材料科学中广泛应用的典型结构.由于加工工艺中材料力学、热学性能失配等原因导致的薄膜中出现的残余应力,是界面裂纹的萌生和扩展的重要原因.采用三参数(Γ0,/σy,t)的修正的断裂过程区结合力模型,讨论了在塑性氛围下裂尖解理断裂的过程,裂尖应力分布,裂尖形貌和表征裂纹尖端断裂过程区特征参数对断裂过程的影响,并应用到均质金属薄膜/陶瓷基底结构中残余应力导致界面裂纹起裂和扩展的全过程分析中.
内嵌弹性区、结合力模型、薄膜/基底结构、界面断裂
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TB330.1(工程材料学)
国家自然科学基金198911803;清华大学校科研和教改项目JZ2000-007
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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