X射线吸收谱测算锂氮共掺杂氧化锌薄膜局域电子结构

摘要：

为了实现对Li—N共掺杂p型ZnO薄膜的形成机制以及其稳定p型导电原因的揭示,利用X射线光电子谱及基于同步辐射光源的X射线吸收精细结构谱测试对薄膜的局域电子结构进行了测算分析.获得了Li—N成键及Li—N复合型受主形成的信号,利用光致发光测量计算其受主能级为122 mV.证实了薄膜中Li—N复合型受主的形成,而Li—N共掺杂p型ZnO良好的稳定性则归因于Li—N共掺杂在p型ZnO薄膜中实现了Li和N的成键.

关键词：氧化锌;p型掺杂;形成机制;稳定性;X射线吸收精细结构谱

所属期刊栏目：43

分类号：O484.4(固体物理学)

在线出版日期：2022-02-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：218-225