δ-掺杂受主的扩散对GaAs/AlAs量子阱子带的影响
在15 nm GaAs/5 nm AlAs单量子阱的GaAs阱层中间,分别进行不同浓度剂量的铍受主的δ-掺杂.铍受主在量子阱层中的扩散浓度分布,由扩散方程数值解出.高温下扩散在GaAs阱层中的Be受主将发生电离,成为带负电荷的受主离子,同时也向量子阱价带的子带中引入空穴.带负电荷的扩散受主离子和价带子带中的空穴,它们都是带电粒子在GaAs阱层中按库伦定律激发电场.相比较而言,对于无掺杂同结构量子阱,在空穴的薛定谔中增加了一个额外的微扰势,从而使无掺杂的量子阱价带的子带有所改变.在有效质量和包络函数近似下,通过循环迭代方法,数值求解了既满足薛定谔方程又满足泊松方程的空穴波函数,找出了自洽、收敛的空穴子带的能量本征值.计算发现考虑到这种额外微扰势,重空穴基态子带hh的能量有一个电子伏特变化,并且随着掺杂受主剂量的增加,重空穴基态子带hh向着价带顶红移,计算结果与实验测量符合得很好.
掺杂剂量、δ-掺杂、GaAs/AlAs量子阱、受主的扩散分布
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O471.5(半导体物理学)
山东省自然科学基金ZR2017MF018;国家自然科学基金61675223
2019-10-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
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