传导冷却高功率半导体激光器单巴器件CW工作模式下的热加速寿命试验

摘要：

可靠性是高功率半导体激光器(HLD)的一个重要性能.热加速寿命试验是HLD寿命评价和可靠性分析的重要技术.在本文中,我们在高温测试平台上对铟焊料封装的18个中心波长为808 nm的传导冷却型HLD单巴器件在恒定电流60 A条件下进行55,65,80℃3组热沉温度下的热加速寿命试验.根据器件输出功率在加速寿命测试期间的降低趋势,得到该批HLD器件的寿命分别为1022,620,298 h,再根据Arrhenius公式得到该器件的激活能为0.56541 eV,从而外推得到器件在室温下的寿命为5762 h.可见55℃下器件寿命加速了5倍,而在65℃下寿命加速了8.5倍,80℃下寿命加速17倍.此外,我们还分析了器件热加速寿命试验后的性能.

关键词：高功率半导体激光器、热加速寿命测试、可靠性、退化

所属期刊栏目：40

分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金61334010

在线出版日期：2019-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：1136-1145