银纳米粒子的SERS效应和SEF效应在微流控芯片光学检测中的应用

摘要：

银纳米离子的SERS技术和SEF技术的信号检测灵敏度非常高,可以用在微流控芯片的定量分析中.为了提高微流控芯片光学检测技术的检测精度,提出一种在微通道中添加银纳米粒子来增强SYBR GreenⅠ拉曼和荧光信号的方法,并对该方法的原理和增强效果进行了研究.首先,利用准分子激光器在PMMA基板上直写刻蚀出宽200μm、深68μm的微通道,接着将制备的银前体溶液加入微通道,通过加热制备出表面增强拉曼(SERS)和表面增强荧光(SEF)基板,接下来对添加银纳米粒子前后的拉曼和荧光信号分别进行对比,进一步研究了微通道中不同浓度银纳米粒子对SYBR GREEN I的拉曼和荧光信号增强效果.添加银纳米粒子后,表面增强拉曼(SERS)实验的增强因子为3.5×103,添加银纳米粒子的样品的荧光信号强度与不含银纳米粒子样品的荧光信号强度相比,约增加了1倍.结果表明,在微通道中检测SYBR Green I时通过增加银纳米粒子显著地增强了拉曼和荧光信号,这种方法可以用在以SYBR GreenⅠ做染料的微流控芯片检测技术中.

关键词：表面增强荧光、表面增强拉曼、微流控芯片、光学检测、SYBRGreenⅠ

所属期刊栏目：39

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：国家自然科学基金51375024

在线出版日期：2018-12-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1633-1638