计及厚度下量子点量子比特的电磁场依赖性
在电子-体纵光学(Longitudinal optical,LO)声子强耦合条件下,采用LLP-Pekar型变分法推导出计及厚度下量子点中极化子的基态和第一激发态能量本征值和本征函数以及平均声子数的电磁场依赖性.在此基础上,以极化子的二能级结构为载体构造了量子点量子比特.数值计算结果表明:量子比特的振荡周期T0随量子点厚度L的增加而增大,随磁场的回旋频率ωc、电场强度F和电声子耦合强度α的增加而减小.量子比特的概率密度(Ψ)(ρ,z,t)2随电子横向坐标ρ的变化呈现"正态分布"并受到量子盘厚度L和有效半径R0的强烈影响,随电子纵向坐标z、角坐标φ和时间t作周期性振荡变化.消相干时间(τ)随磁场的回旋频率ωc、色散系数η和电子-声子耦合常数α的增加而增大,随电场强度F、量子点厚度L和有效半径R0的增加而减小.量子点的厚度是量子点量子比特的一个重要参数,理论上可以通过设计不同的量子盘厚度并结合调节外加电磁场的强度,达到调控量子比特振荡周期、消相干时间大小的目的.
量子点的厚度、极化子、量子比特、电磁场依赖性
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O469(真空电子学（电子物理学）)
河北省自然科学基金E2013407119;半导体超晶格国家重点实验室开放研究基金CHJG200701;河北科技师范学院科学研究基金1301-2506资助项目 Supported by Natural Science Foundation of Hebei ProvinceE2013407119;Open Research Foundation of State Key Laboratory of Semiconductor SuperlatticeCHJG200701;Scientific research foundation of Hebei Normal University of Science and Technology1301-2506
2017-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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