大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析

摘要：

对自主研发的975 nm波长的COS封装的大功率半导体单管激光器进行了10,12,14 A的电流步进加速应力试验,应用逆幂律模型和指数分布的理论对试验结果进行了分析,计算出在8A的电流下,器件的平均寿命为28 999 h.研究了器件的失效形式和老化前后的温升、偏振度的变化,结果表明:失效形式主要有体内退化、腔面退化、与焊接有关的退化;老化后的器件的结温上升增多,偏振度下降10％左右.

关键词：可靠性、步进加速应力、指数分布

所属期刊栏目：38

分类号：TN248.4;TN306(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金61306057;National Natural Science Foundation of China61306057

在线出版日期：2017-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：165-169