基于BP神经网络的LED可靠性模型研究

摘要：

根据LED可靠性与相关参数的映射关系，建立拓扑结构为6-12-1的BP神经网络。以实测白光LED芯片的理想因子、结温、色温漂移等参数为输入量，以寿命为输出量，计算模型精度。研究结果表明，该模型有良好的外推能力及鲁棒性，可在短时间内成功预测LED寿命，神经网络训练结果相关系数为99.8%，检验组误差小于3%。

关键词：发光二极管、可靠性、BP神经网络、权重分析

分类号：TN312+.8(半导体技术)

资助基金：广东省战略性新兴产业专项2011A081301017,2012A080304012,2012A080304001;广州市科技计划2013J4300021

在线出版日期：2015-08-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：962-968