重离子辐照SiO2通过能量损失产生发光色心的研究

摘要：

通过红外光谱和荧光发射光谱分别对600 keV、4 MeV和5 MeV Kr离子辐照的SiO2进行发光特性的研究.在低能量辐照体系中,简单色心(F2色心)的形成在损伤过程中占据主导地位,其主要诱发蓝光发射带；在高能离子辐照条件下,离子径迹上的能量密度较大,因此缺陷浓度的增大产生了一些缺陷团簇和离子径迹,形成了复杂的色心(F+2和F+3色心等)并诱发了强烈的绿光发射带和红光发射带.该实验结果与能量损失过程中统一热峰理论模型(一个综合的基于电子能损与核能损的非弹性碰撞模型和弹性碰撞模型)的模拟结果能够很好地吻合,表明在keV～MeV能区上存在电子能损过程与核能损过程的协同效应.

关键词：重离子辐照、色心发光、PL、热峰模型

所属期刊栏目：33

分类号：O469(真空电子学（电子物理学）)

资助基金：国家自然科学基金10705037,10975165

在线出版日期：2013-03-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1049-1054