GaN基大功率白光LED的高温老化特性
对大功率GaN基白光LED在85℃下进行了高温加速老化实验.经6500 h的老化,样品光通量退化幅度为28% ~33%.样品的Ⅰ-V特性变化表明其串联电阻和反向漏电流不断增大,原因可归结为芯片欧姆接触的退化及芯片材料中缺陷密度的提高.样品的热特性变化显示出各结构层热阻均明显增大,这是由散热通道上各层材料的老化及焊料层出现大面积空洞引起的.分析表明,高温老化过程中芯片和封装材料的退化共同导致了LED的缓变失效.
大功率白光LED、老化、热阻、失效分析
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TN383.1(半导体技术)
北京市自然科学基金4092005;国家“863”计划2009AA032704;教育部博士点基金20091103110006
2012-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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