基于延迟荧光光谱F685/F730温度响应曲线的植物耐热性评价

摘要：

以3种不同耐热型玉米植株叶片为样品,分析了在10°～50℃温度胁迫下,样品离体叶片延迟荧光光谱的变化.实验发现:温度对延迟荧光光谱主峰685 nm的最高峰值强度(F685)和次峰730 nm的最高峰值强度(F730)的比值F685/F730产生了显著的影响.此外,不同耐热型样品在10℃胁迫下的F685/F730的比值(V10)与50℃胁迫下的F685/F730值(V50)之间存在显著差异:不耐热样品叶片的V10/V50高于耐热的,越耐热的样品V10/V50值越小,且随着胁迫时间的延长,V10/V50也逐渐减小.因此,通过对实验结果的分析认为,延迟荧光光谱F685/F730>比值是随着温度胁迫规律变化的,F685/F730比值的温度响应曲线有望成为一种鉴定和评价植物耐热性的新方法.

关键词：延迟荧光、延迟荧光光谱、温度胁迫、F685/F730、耐热性

所属期刊栏目：32

分类号：Q947.8;O482.31(植物学)

资助基金：国家自然科学基金60774056;中央高校基本科研业务费专项基金2009QN032

在线出版日期：2011-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：94-99