InAs/GaAs单量子点中电子/空穴自旋弛豫
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InAs/GaAs单量子点中电子/空穴自旋弛豫

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利用分子束外延制备了三种类型量子点样品,它们分别是:未掺杂样品、n型Si调制掺杂样品和p型Be调制掺杂样品.在5 K温度下,采用共聚焦显微镜系统,测量了单量子点的光致发光谱和时间分辨光谱, 研究了单量子点中三种类型激子(本征激子、负电荷激子和正电荷激子)的电子/空穴自旋翻转时间.它们的自旋翻转时间常数分别为: 本征激子的自旋翻转时间约16 ns, 正电荷激子中电子的自旋翻转时间约2 ns, 负电荷激子中空穴的自旋翻转时间约50 ps.

量子点、激子、自旋翻转时间

30

O472.3(半导体物理学)

国家自然科学基金60676054

2009-12-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

668-672

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1000-7032

22-1116/O4

30

2009,30(5)

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