一种红外光谱发射率测量装置的研制
研制了一种利用对称双光路比对法测量材料表面光谱发射率的装置,该装置采用多光谱辐射测温技术测量材料表面温度,解决了不规则材料表面温度难以精确测定的问题,实现了材料表面半球发射率和表面温度的同时测定.
发射率、辐射测温、多光谱测温
29
O482.31(固体物理学)
2008-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
200-203
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发射率、辐射测温、多光谱测温
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O482.31(固体物理学)
2008-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
200-203
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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