10.3321/j.issn:1000-7032.2006.06.021
用电化学沉积方法制备钴掺杂的氧化锌薄膜及其光学性质
通过选用乌洛托品作为络合剂,采用电化学沉积的方法成功地制备出钴掺杂的氧化锌薄膜.通过对样品的XRD表征,得出生长的样品为ZnO纤锌矿结构,并没有其他杂相峰,即没有出现分相;通过对样品XPS的分析显示Co离子在薄膜中以+2价的形式存在;为进一步验证Co2+离子进入ZnO的晶格,对掺杂不同Co2+浓度的样品进行PL谱的测量,从发光光谱上可以看出随着掺杂Co2+浓度的增加,带隙逐渐变窄,发光峰位红移,证明Co2+部分取代了Zn2+而进入了ZnO晶格中.
氧化锌、乌洛托品、电化学沉积、光致发光
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O472.3;O482.31(半导体物理学)
国家自然科学基金60336020;国家自然科学基金50402016;60501025;中国科学院知识创新工程项目
2007-01-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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