10.3321/j.issn:1000-7032.2004.03.020
范德堡方法在ZnO薄膜测试中的应用
近年来,随着对宽禁带半导体材料,氧化锌薄膜研究的快速发展,对其电学性质的研究也显得尤为重要.主要介绍范德堡方法在ZnO薄膜电学性质测量中的应用,并对初步测量结果作简要的讨论.
范德堡方法、ZnO膜薄、欧姆接触、霍尔效应
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O472.3(半导体物理学)
国家自然科学基金10174072,5014206;国家自然科学基金90201038
2004-08-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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