等离子辅助镀膜技术
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10.3321/j.issn:1000-7032.2002.06.019

等离子辅助镀膜技术

引用
传统的电子束蒸发工艺提供了高速率的沉积,但由于成膜分子的能量较低,使沉积的薄膜排列密度很低,其性能和块状材料区别很大,已有不少学者发现了很多金属和氧化物薄膜具有典型的柱状结构.薄膜的低排列密度造成了其光学常数和机械性能不如块状材料,近几年发展起来的高功率等离子体辅助镀膜技术解决了上述问题.本文报道了我国自己研制的等离子体源(GIS)的性能指标、用这个源所做的单层TiO2膜的成膜工艺与质量,以及用等离子辅助沉积的减反射膜的工艺.

等离子辅助沉积技术、光学镀膜

23

TN205(光电子技术、激光技术)

中国科学院知识创新工程项目ZJ00C04T

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

623-626

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23

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