10.3321/j.issn:1000-7032.2002.05.020
新型变密度卤化物/MCP反射式X射线敏感薄膜的研究
在MCP输入端通道内壁制作了反射式X射线敏感膜层,提高了MCP对能量35~50kev X射线的探测能力.实验结果表明:变密度结构的CsI/MCP中膜层结构较密实时,其输出响应可提高5~6倍,较无膜MCP提高1~2个数量级,和CsBr、KBr相比较,以CsI的响应特性为最佳;膜层材料、结构、工艺和X射线能量等是影响探测能力的主要因素.最后指出了这种反射式CsI/MCP薄膜的应用前景.
变密度、卤化物、X射线光阴极、微通道板
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TN144.1(真空电子技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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