荧光粉表面吸附汞的检测

摘要：

在荧光灯的燃点过程中,荧光粉表面沉积吸附的汞对光衰有重要的影响.本文提出用冷原子吸收方法(CVAAS)直接检测荧光粉表面吸附汞量的变化,利用室温下原子汞对254nm共振线的吸收,且其吸收与汞原子蒸气浓度成正比进行汞量测定.测得方法的标准曲线回归方程为Y=0.4455X+0.2000,试样的加标回收率为92.3～99.8%,满足荧光粉含汞量测定的要求.对燃点不同时间后的铝酸盐蓝色荧光粉(BAM)进行测定,结果表明:荧光粉表面沉积吸附的汞量随点灯时间的延长而增加,与灯的光衰增大趋向一致,汞的吸附沉积确实是造成荧光灯光衰的主要原因之一.检测结果还表明:将未作表面包膜处理的BAM粉与经过表面包覆纳米Al2O3膜层处理的BAM粉作对照,前者的含汞量比后者的含汞量明显要高,可见:对荧光粉进行表面包膜处理,能够保护粉体、减少汞的沉积吸附,从而降低点灯过程中的光衰.

关键词：汞、冷原子吸收法、荧光粉、光衰

所属期刊栏目：23

分类号：O482.31(固体物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：409-412