10.3321/j.issn:1000-7032.2000.01.001
不同偏压下Zn1-xCdxSe-ZnSe超晶格室温电调制反射谱研究
首次研究了在室温和不同直流偏压下Zn1-xCdxSe-ZnSe超晶格结构的电调制反射谱(ER)的变化.当器件处于弱场范围时,随着电场的增加,ER谱的信号幅度增加,而线型不变;在强场区,随着电场的增加,ER谱的线型发生变化,激子跃迁能量红移,继续增加反向偏压出现来自于1c-2hh的禁戒跃迁,且其强度随反向偏压的增加迅速增加.不同偏压下组合超晶格结构的ER谱研究表明,势垒高度较低的超晶格结构中的激子较易受到电场的调制.
Zn1-xCdxSe-ZnSe超晶格、电调制反射谱、电光调制
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O484.41(固体物理学)
科技部"攀登计划"69896260;国家自然科学基金59772036;69886003;69977019;中国科学院实验室基金;国家自然科学基金69896260
2007-03-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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