基于ATE的Nand Flash功能测试优化方法

摘要：

针对利用自动测试设备测试Nand Flash电路的功能时,遇到坏块就会判定Nand Flash功能失效的问题,对Nand Flash功能测试优化方法进行了研究,使用自动测试设备(ATE)测试系统的紧凑型故障存储器(CFM)的功能,通过纠错码(ECC)将测试结果实时捕获到CFM中,测试程序从CFM中即可读取测试通过或者失败的判断,从而可以更加清晰地判别电路存储单元的性能,解决了在测试Nand Flash电路过程中遇到坏块就判定其功能失效的问题.

关键词：Nand Flash、自动测试设备、纠错码、紧凑型故障存储器

分类号：TP333(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2023-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：34-37