浮动VI源的应用研究

摘要：

VI源是半导体集成电路性能测试机的核心资源,共性能直接影响着整个测试系统的性能.VI源通常包括浮动VI源和共地VI源.介绍了浮动VI源相比共地VI源的优势,例如:浮动VI源的可叠加性,满足了高电压大电流的要求;浮动VI源的功能和触发测量功能,极大地提升了阈值参数的测试效率和测试精度;浮动VI源使高精度差分电压测试更稳定和精确.同时也指出,浮动VI源并非完全没有缺点,应根据具体应用情况合理地选择VI源.

关键词：浮动电压电流源、可叠加性、任意波形发生器、触发测量功能、高精度差分电压测试

分类号：TN401(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：44-47