一种基于ATE的反熔丝FPGA的测试方法

摘要：

该文首先介绍了反熔丝FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)的典型结构,分析了传统反熔丝FPGA测试面临的难点,提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment,自动化测试设备)的反熔丝FPGA的测试方法.测试结果表明,该测试方法可以有效地解决反熔丝FPGA的测试难题.

关键词：反熔丝、现场可编程逻辑门阵列、自动化测试设备、测试方法

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2021-01-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：28-32