一种基于V93000的高速缓冲器测试方法

摘要：

普通的缓冲器芯片频率大多只有1～20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展.这样对于保障芯片质量的集成电路测试而言也提出了新的要求.该文以TI公司的SN74LVC 2T45为例,该芯片最大频率可达210MHz,针对功能测试、部分直流测试、交流测试三个方向,介绍了一种基于V93000测试机台的高速缓冲器测试方法.

关键词：高速缓冲器、V93000、ATE测试

分类号：TN407;TN79(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-12-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：26-29