基于V93000的FPGA测试优化方法研究

摘要：

基于Xilinx公司的现场可编程门阵列FPGA XC6VLX240T-2FF1156I,JTAG端口配置烧写时间远大于测试时间,并且搭建实装测试平台不适合大批量生产的需求,不能满足此类产品的测试发展需求,该文提出了一种FPGA测试时间优化方法;采用Advantest公司的V93000测试机,通过在周期内加载2行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化,删减芯片配置初始化源码,从而减少测试时间,同时该文也将结合Xilinx公司提供的源码和IP核进行模型仿真生成测试码,提高FPGA芯片测试覆盖率,实验证明此方法大大提高了在线配置的速度,对提高测试效率具有一定的参考价值.

关键词：FPGA测试、在线配置、测试时间

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：35-37,44