AOI中贴片IC的快速定位算法设计

摘要：

多引脚小间距的IC元件是电子产品生产过程中视觉检测与定位的难点.针对传统的图像匹配算法的操作复杂,以及基于IC元件背面特征等定位算法的计算量大,适用性差等缺陷,提出了一种改进的差分直线检测的图像定位算法,该算法利用先验知识确定IC元件黑色塑基间边缘的大概区域,在这个大概区域里面采用一阶差分运算,提取黑色塑基的边缘点集合.该算法不需要对图像中的每一个像素点进行计算,因此大大地提高了算法速度,同时通过此方法提取的边缘点图像噪声点极少,使得后续的直线检测速度也得到了提升,实验结果表明,该算法的精度能满足实际生产需要,具有更好的适用性,为进一步检测芯片缺陷提供了保障.

关键词：IC元件、视觉检测、定位算法

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-03-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-4,8