恒流二极管器件芯片测试中接触电阻的影响

摘要：

该文主要探讨接触电阻对CRD产品芯片电参数测试的影响.VK参数是CRD产品的一个重要参数,反映CRD产品恒流起始电压特性.基于CRD产品应用中出现的异常,通过芯片恒流特性扫描和模拟验证,剖析芯片测试中接触电阻存在的危害,针对问题点采取相应的测试解决方案.新方案对CRD产品芯片电参数测试的稳定性和准确性具有较高的参考意义.

关键词：恒流二极管、接触电阻、参数、测试、改进

分类号：TN31(半导体技术)

在线出版日期：2018-11-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：86-89