牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪

摘要：

牛津仪器非常荣幸地推出新款X-Strata920X射线荧光（XRF）镀层测厚和材料分析仪。该X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，榍保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。

关键词：X射线荧光、测厚仪、仪器、牛津、镀层、材料分析仪、过程控制、探测器

分类号：TH821.1

在线出版日期：2013-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：55-56